CA20 Tamaño del defecto: <1 µm, <50 µm, <1 mm Tamaño de la pieza: <435 mm Modo de funcionamiento: rayos X 3D, 2D/3D

Lo más destacado del CA20
Diseñado para la industria de semiconductores
Tecnología no destructiva para obtener información tridimensional sobre los golpes de soldadura en cuestión de minutos
Resultados repetibles a través de tecnología confiable y precisa, diseñada para respaldar una rutina de inspección estable
Revisión eficiente asistida por software que incluye análisis de vacíos automatizado con Void Insights
Dose Manager para la protección de componentes sensibles a los rayos X

CA20: el camino más rápido desde la I+D hasta el retorno de la inversión
El sector de los semiconductores es una industria impulsada por la velocidad. En la carrera por la innovación cada día cuenta. Como sistema de inspección desarrollado específicamente para los desafíos que plantean los circuitos integrados 3D complejos en embalaje avanzado, el CA20 le ayuda a mantener el ritmo y mantenerse a la vanguardia. El CA20 permite una verificación acelerada de nuevos prototipos de nodos de proceso de empaquetado: cuanto más rápido encuentre la causa raíz de los problemas de aceleración y los solucione, más rápido alcanzará el rendimiento deseado y, por lo tanto, el retorno de la inversión ( retorno de la inversión).