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Tú estás aquí: Inicio / PRODUCTOS / Recubrimientos Control Integral / Patrones / Patrón visual perfil de superficie Keane Tator

Patrón visual perfil de superficie Keane Tator

Descripción Reducida:
EL Comparador de Perfil de Superficie Keane Tator es un instrumento de campo diseñado para determinar de manera rápida y precisa el perfil de la superficie de las superficies limpiadas con chorro de arena. Una unidad de comparación consta de un disco de referencia, una lupa iluminada 5-X con soporte de disco magnético y una caja de disco de plástico. Hay un disco diferente disponible para su uso en superficies limpias con arena, granalla o granallado. Cada disco es una copia electroformada de níquel de alta pureza de un disco maestro duplicado dentro de más o menos 50 microinches. La superficie limpiada a chorro se compara con el disco de referencia mediante una lupa iluminada.

El disco comparador está compuesto por cinco secciones, cada una con una profundidad de patrón de anclaje diferente. Cada sección se marca primero dando la profundidad nominal del patrón de anclaje en mils (una mil = 25.4 micrones); a continuación, un “G / S” que indica un abrasivo de granalla / acero (granulado metálico) y un “76” que indica el año en que se hizo el disco maestro.

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Categorías: Patrones, Perfil de Superficie, Recubrimientos Control Integral Etiqueta: KTA Tator
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Descripción

Información Técnica:

A. Disco de referencia: El comparador de grano / acero Keane-Tator tiene como componente básico un disco de referencia de níquel de alta pureza que consta de cinco segmentos con patrones de anclaje nominales de 1.5, 2.0, 3.0, 4.5 y 5.5 mils. (Una mil = 25.4 micrones). El disco de referencia es una copia electroformada de un disco maestro, duplicada a una tolerancia máxima de ± .05 mils. Los segmentos del disco maestro se seleccionaron a partir de planchas de acero al carbono limpiadas con una variedad de mezclas operativas de grano metálico (G 14 a G 80) a diferentes distancias y ángulos de la fuente. Los segmentos del disco maestro y la copia en electroforma se midieron en el Laboratorio del Consejo de Pintura de Estructuras de Acero en el Instituto Mellon de la Universidad Carnegie Mellon, Pittsburgh, Pennsylvania.

B. Medición del patrón de anclaje: el perfil se obtuvo enfocando un microscopio óptico calibrado primero en el pico más alto y luego en el valle más bajo en el campo de visión, observando que la distancia de movimiento se realizó a 250X (18 mm de diámetro de campo) y 100X (45 diámetro del campo mil). Las mediciones a mayores aumentos se prefieren cuando los perfiles “finos” se miden debido a una mayor precisión debido a la menor profundidad de campo. La medición de los perfiles “gruesos” se realiza con un aumento menor para incluir más picos. Debido al mayor campo de visión a 100X, la probabilidad estadística de que un pico más grande se mida a 100X en comparación con 250X es ligeramente mayor que seis veces.

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